Seminarium ACMiN

---

Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii AGH zaprasza na seminarium, które odbędzie się 7 marca 2019 r. o godz. 14.00. 

Referat pt. Transmisyjna Dyfrakcja Kikuchiego w skaningowym mikroskopie elektronowym – podstawy techniki oraz jej aplikacji w inżynierii materiałowej wygłosi dr inż. Tomasz Tokarski (Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii AGH).

Miejsce: ul. Kawiory 30, bud. D-16, sala audytoryjna ACMiN (sala 1.02A)

Streszczenie referatu

Dyfrakcja elektronów wstecznie rozproszonych EBSD w skaningowym mikroskopie elektronowym stanowi obecnie jedno z najbardziej wszechstronnych narzędzi analizy mikrostruktury ciała stałego. Zaprezentowana po raz pierwszy w 2012 roku modyfikacja metody, polegająca zastosowaniu cienkich folii w miejsce litej próbki, umożliwiła skokową poprawę̨ rozdzielczości i otworzyła nowe perspektywy aplikacji systemów EBSD do analizy nanomateriałów. Nowa technika wykorzystująca elektrony przejściowe została nazwana TKD lub też t-EBSD. Wszechstronność metody umożliwia obrazowanie krystalografii materiałów w szerokiej skali wymiarowej począwszy od mikronów do pojedynczych nanometrów. W prezentacji przedstawiony zostanie opis techniki TKD w kontekście aplikacji do materiałów metalicznych i problemów inżynierii materiałowej. Zaprezentowane zostaną podstawowe czynniki wpływające na pomiar: napięcie przyspieszające, rodzaj i grubość́ folii oraz geometria jej ustawienia w stosunku do kamery. Parametry te mają fundamentalny wpływ na możliwą do uzyskania przestrzenną zdolność rozdzielczą oraz szybkości prowadzonej analizy, a tym samym na jakość uzyskanych pomiarów.

---