ACMiN AGH zaprasza na warsztaty AFM

Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii AGH i AM Technologies sp. z o.o. zapraszają na bezpłatne warsztaty AFM, które będą poświęcone najnowszym technikom analizy powierzchni w skali nano z wykorzystaniem mikroskopii sił atomowych (AFM).

---

Program warsztatów:

• 8.30 – rejestracja
  
  
• 9.00 – powitanie
  Artur Kulińczak (Agilent Technologies)
  
  
• 9.10 – „Prezentacja Akademickiego Centrum Materiałów i Nanotechnologii AGH”
  prof. dr hab. inż. Marek Przybylski (Dyrektor ACMiN AGH)
  
  
• 9.40 – „STM samoorganizujących się monowarstw organicznych na podłożu Au(111)”
  dr hab. Piotr Cyganik (Instytut Fizyki UJ)
  
  
• 10.10 – „Analiza obrazów AFM za pomocą miar morfologicznych”
  dr Jakub Rysz (Instytut Fizyki UJ)
  
  
• 10.50 – przerwa
  
  
•  1.00 – „Charakterystyka złącza polimer-metal metodą kelvinowskiej mikroskopii sił (KPFM)”
  Mateusz Marzec (Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej AGH, ACMiN AGH)
  
  
• 11.30 – „Obrazowanie powierzchni z wykorzystaniem nowego mikroskopu AFM: Agilent 7500”
  Artur Kulińczak (Agilent Technologies)
  
  
• 12.00 – przerwa obiadowa, poczęstunek dla zarejestrowanych uczestników
  
  
• 13.00 – „Pomiary zgłoszonych próbek za pomocą nowego mikroskopu AFM: Agilent 7500”
  dr Matthias Fenner, dr Anna Wałkiewicz (Agilent Technologies)
  
  
• 16.00 – zakończenie warsztatów

 

Warsztaty odbędą się 20 marca br. w Akademickim Centrum Materiałów i Nanotechnologii AGH (paw. D-16, ul. Kawiory 30).

Udział w warsztatach jest bezpłatny. Zainteresowani otrzymają certyfikat uczestnictwa.
Wykłady (część teoretyczna) nie wymagają rejestracji, organizatorzy zapraszają wszystkich chętnych.

W celu dokonania rejestracji na część praktyczną, czyli pomiary przyniesionych próbek nowym mikroskopem AFM Agilent 7500, należy przesłać e-mail na adres: zaproszenia@amt.pl zawierający następujące informacje: imię, nazwisko, nazwę uczelni, telefon oraz krótki opis próbki w języku polskim i/lub angielskim.

---